但什么是活动度下降呢？这是晶体电阻相对突然的增加，是石英晶体串联电阻和频率特性随温度变化的一种扰动。通常，活性下降是由石英晶体中振动的干扰模式（耦合模式）引起的。当耦合模式的频率与主模式的频率一致时，耦合模式会从主模式吸取能量，从而显著增加主模式的电阻。活动骤降会导致系统失锁或其他类型的问题。

这些干扰模式实际上是低频弯曲模式的高泛音（高达50次泛音）。它们的温度系数非常陡，约为-20ppm/°C，仅在较窄的温度范围内（约5至20°C）与主模式频率一致。如果没有设计出干扰耦合模式，将在此温度范围内导致活性下降。

由于耦合模式是基于石英的，因此它会导致任何活动下降在时间和温度上非常容易重复。耦合模式的影响程度可以从轻微到间歇到灾难性。这完全取决于干扰模式的强度以及应用对振荡器输出电平变化和2至20 ppm频率偏移的敏感程度。

活性下降的另一个原因是颗粒粘在晶体的活性区域上或附近。这种类型的活动下降会随着时间和温度的变化而变化。如果粒子从晶体表面脱离或移动到表面上的另一个位置，这些下降将受到影响。这种位置变化可能会导致下降变得更好、更糟或至少暂时消失。或者从未检测到突然发生或在骤降发生的温度下改变幅度。

石英振荡器的活度下降

在石英晶体中，有很多技术术语、规格和复杂的物理特性，对于那些不直接从事石英晶振晶体行业工程级别工作的人来说，这些术语、规范和物理特性可能会让他们不知所措。
它与晶体时钟振荡器的异常故障模式有关，可以通过有效和主动的过程进行测试并几乎完全根除。
活性下降是晶体电阻的相对突然增加，即石英晶体串联电阻（Rs）随温度的变化而发生的扰动。通常，活性下降是由石英晶体中的干扰振动模式（耦合模式）引起的。这些模式从主模式中释放能量。因此，一旦耦合模式的频率与主模式的频率一致，耦合模式就急剧增加主模式的电阻。这些干扰模式实际上是低频弯曲模式的高泛音（高达第50泛音）。它们的温度系数非常陡峭，约为-20ppm/°C。因此，它们仅在相当窄的温度范围内与主模式频率一致。可以设计出干扰模式。如果没有设计出来，耦合模式将导致活动下降。见图1。

Q-Tech振荡器QTCT5702C1B-24.576000活动下降以及如何避免它们
它们的温度通常相当窄，大约5到30°C宽。对于给定的设计，活性下降将趋向于大约相同的温度范围。因为耦合模式是基于石英晶体的，所以它导致的任何活动随时间和温度的变化都是非常可重复的。请参阅下面的示例。
耦合模式的影响范围从轻微到灾难性再到间歇性。这取决于干扰模式的强度以及应用对振荡器输出电平的变化、大约2到20ppm的频率偏移等的敏感程度。活动性下降可能导致系统失去锁相或其他类型的问题。
活性下降的另一个原因是颗粒粘附在晶体的活性区域上或附近。这种类型的活动下降可以随着时间、温度和时间的变化而变化。这些将受到颗粒从晶体表面分离或移动到另一个位置的影响。因此，这种位置的变化可能会导致下跌变得更好，更糟，至少暂时消失。此外，从未检测到转变为突然发生或在发生下降的温度下改变幅度。
在Q-Tech，我们有能力围绕潜在的活动下降进行设计和/或在温度测试程序中筛选出它们。这只是我们成为世界上第一高可靠性振荡器制造商的众多原因之一。

设计AT切割活动无倾角石英晶体振荡器的一些考虑因素：

（1）石英加工制造:

a.晶体单元设计的物理几何形状

b.电极参数和设计（R1、C1、C0、L1）

c.负载电容

d.驱动级别和驱动级别相关性（DLD）

e.基础电镀或最终电镀过程中引入的颗粒

f.真空泵中的油等污染物

g.水晶坯上的划痕

h.晶体切割和操作模式

i.安装方法

j.工作温度窗口

（2）电路设计：

a.放大器裕度和增益

b.负载电容

c.使放大器增益与晶体驱动电平匹配

d.操作模式（基本模式与第三或第五Overtone模式）

e.工作温度

f.附着晶体的方法

（3）试验方法：

a.安装前对成品水晶水平面进行测试

b.在完成的振荡器水平下进行测试（见图2）

c.筛选试验

d.回转速率

e.慢斜坡试验（1.25°C/分钟）或每度或每五度的频率测量，以表征活性下降。见图3和图4。

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